| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 其他 | 型號(hào) | SU8220 |
| 類型 | 場發(fā)射掃描電子顯微鏡 | 加工定制 | 是 |
| 用途 | 顯微鏡 | 重量 | 200KG |
| 產(chǎn)地 | 日本 | ||
儀器型號(hào): FESEM SU 8220
儀器廠家：日本Hitachi公司
儀器簡介：
場發(fā)射掃描電鏡
X-FEG 30kV 電子槍
加速電壓：0.1-30KV
分辨率：0.8nm(加速電壓15KV)
1.1nm(著陸電壓1KV，減速模式)
放大倍數(shù)：20~2000倍(低倍模式)，100~800000倍(高倍模式)
能譜儀：斜插式和平插式能譜儀EDAX SDD電制冷能譜探頭（能量分辨率優(yōu)于129eV）
功能范圍:
FESEM SU8220顯微鏡是一款的高分辨率掃描電子顯微鏡，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理。目前SU8200系列已成為全球各地杰出研究人員的掃描電子顯微鏡(SEM)，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、陶瓷氧化物、礦物、半導(dǎo)體、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品等材料領(lǐng)域。既可以觀察和檢測非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在微米、納米級樣品的表面特征，也可以進(jìn)行化學(xué)成分像分布，微區(qū)化學(xué)成分分析顯微組織的研究。高性能X射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。
材料科學(xué)應(yīng)用包括：
·材料的高分辨形貌分析
·顯微組織及超微尺寸材料的研究
·化學(xué)成分像分布，微區(qū)化學(xué)成分分析
·具有相分析、自動(dòng)顆粒物分析以及形態(tài)學(xué)分析功能
·配備真空轉(zhuǎn)移裝置，可在不接觸空氣的環(huán)境中更換樣品
