二、技術參數
1、可測元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Zr、Nb、Mo、Hf、W、Ta、Re、Pb、Ag、Sn、Bi、Sb等25種，Mg、Al、Si、P、S，Delte-X便攜式光譜儀所配置的標準元素還可以增加或更換。
2、廣泛應用于鐵合金、銅合金、鋁合金、銅鐵合金、鉛錫合金等金屬成份的定量分析以及現場的快速材料鑒定和分揀。
3、規(guī)格標準：尺寸300×100×280mm/1.5公斤；
4、X射線管：40KV/4W的銀靶；
5、探測器：XFlash®硅漂移檢測器(SDD), 檢測速度快；能量分辨率高/145eV, 計數率/100 kcps；
6、操作系統：HP掌上電腦，Windows Mobile5.0 Bruker 專用軟件；
7、冷卻系統：Peltier半導體冷卻系統；
8、電源： 交、直流供電；2塊充電鋰電池，可連續(xù)工作8-12小時；
9、工作條件：濕度范圍-20℃～+55℃，濕度范圍0～95%；
10、電池充電器：交流充電器：110/220V，50/60Hz；
11、計算機/顯示器：240x320彩顯，65,536像素，背景光可調，觸摸屏；
12、測量模式：牌號識別、定量分析、顯示測量譜線、合格與否判定；
13、樣品表面溫度：使用熱表面適配器，最高可測500℃高溫件；
14、數據傳輸：USB，無線藍牙，SD卡；
15、數據存儲：主機、512MB存儲卡、CF/SD卡，2GB，能存儲幾十萬個牌號和測量數據。
